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描述:X熒光電鍍厚度測試儀1.*EFP算法:多層多元素、各種元素及有機物,甚至有同種元素在不同層也可測量。2.上照式設(shè)計:實現(xiàn)可對超大工件進行快、準(zhǔn)、穩(wěn)高效率測量。3.自動對焦:高低大小樣品可快速清晰對焦。4.變焦裝置算法:可對大90mm深度的凹槽高低落差件直接檢測。5.小面積測量:小測量面積0.002mm2
廠商性質(zhì)
經(jīng)銷商更新時間
2024-04-28訪問量
1442品牌 | 其他品牌 | 價格區(qū)間 | 10萬-20萬 |
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產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),電子,印刷包裝 |
X熒光電鍍厚度測試儀
是專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器,可全自動軟件操作,可多點測試,由軟件控制儀器的測試點,以及移動平臺。是一款功能強大的儀器,配上專門為其開發(fā)的軟件,在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。
黃金,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè);銀行,首飾銷售和檢測機構(gòu);電鍍行業(yè)。
產(chǎn)品詳情
XTD-200測厚儀,專業(yè)表面處理檢測解決方案:釹鐵硼磁鐵Ni/Cu/Ni/FeAlB電鍍層分析
兩層重復(fù)鎳鍍層厚度分析儀
XTD-200測厚儀,于檢測各種異形件,特別是五金類模具、衛(wèi)浴產(chǎn)品、線路板以及高精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析。
儀器優(yōu)點:
1. 分析精度*
2. 分析范圍廣泛
3. 微區(qū)定位
4. 操作簡單快捷
5. 結(jié)果可靠
6. 行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)
XYZ高精密移動裝置:快速定位,手/自動(可選),自動版可實現(xiàn)編程定位多點自動測試。
軟、硬件雙向操作:人性化設(shè)計,實現(xiàn)軟件,硬件雙向快捷操作。
變焦 對焦:配備高敏感鏡頭,實現(xiàn)無感對焦,可測各種異形件、超大工件。
性能優(yōu)勢:
1.*EFP算法:多層多元素、各種元素及有機物,甚至有同種元素在不同層也可測量。
2.上照式設(shè)計:實現(xiàn)可對超大工件進行快、準(zhǔn)、穩(wěn)高效率測量。
3.自動對焦:高低大小樣品可快速清晰對焦。
4.變焦裝置算法:可對大90mm深度的凹槽高低落差件直接檢測。
5.小面積測量:小測量面積0.002mm2
6.大行程移動平臺:手動XY滑臺100*150mm,自動XY平臺200*200mm.
X熒光電鍍厚度測試儀結(jié)構(gòu)設(shè)計:
一六儀器研制的測厚儀*的光路交換裝置,讓X射線和可見光攝像同一垂直線,達(dá)到視覺與測試定位一體,且X光擴散度極小;與EFP軟件配合達(dá)到對焦、變焦雙焦功能,實現(xiàn)高低、凹凸不平各種形狀樣品的測試;高集成的光路交換裝置與接收器的角度可縮小一倍,可以減少弧度傾斜放樣帶來的誤差,同時特征X射線可以穿透測試更厚的表層。
EFP算法:
采用Fp算法的后一代全新核心算法--理論Alpha系數(shù)法,基于熒光X射線激發(fā)的基本原理,從理論上計算出樣品中每個元素的一次和二次特征X射線的熒光強度,在基于此計算Lachance綜合校正系數(shù),然后使用這些理論a系數(shù)去校正元素間的吸收增強效應(yīng)。
只需少數(shù)標(biāo)樣來校正儀器因子,可測試重復(fù)鍍層、非金屬、輕金屬以及有機物層。
產(chǎn)品分類
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